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2008
Journal Article
Titel
Digitale Mehrwellenlängen-Holographie für die schnelle optische Inline Qualitätskontrolle
Abstract
Die industrielle Inline Qualitätskontrolle erfordert in zunehmendem Maße die schnelle, berührungslose, hochpräzise topographische Erfassung unterschiedlichster Freiformflächen und Materialen. Messungen an teilweise spiegelnden und optisch rauen Oberflächen, z. T. mit steilen Kanten, stellen dabei besondere Herausforderungen an optische Messverfahren dar. Es werden Ergebnisse von Messungen mit digitalholographischer Mehrwellenlängen-Holographie präsentiert und Vor- und Nachteile der Kombination mit verschiedenen Phasenschiebeverfahren diskutiert.
Author(s)
Language
German