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Digitale Mehrwellenlängen-Holographie für die schnelle optische Inline Qualitätskontrolle

 
: Strohmeier, D.; Carl, D.; Fratz, M.; Giel, D.; Höfler, H.

DGaO-Proceedings. Online journal (2008), Paper A27
http://www.dgao-proceedings.de/home/home_d.php
ISSN: 1614-8436
Deutsche Gesellschaft für Angewandte Optik (Jahrestagung) <109, 2008, Esslingen>
Deutsch
Konferenzbeitrag
Fraunhofer IPM ()
Holographie; Qualitätskontrolle

Abstract
Die industrielle Inline Qualitätskontrolle erfordert in zunehmendem Maße die schnelle, berührungslose, hochpräzise topographische Erfassung unterschiedlichster Freiformflächen und Materialen. Messungen an teilweise spiegelnden und optisch rauen Oberflächen, z. T. mit steilen Kanten, stellen dabei besondere Herausforderungen an optische Messverfahren dar. Es werden Ergebnisse von Messungen mit digitalholographischer Mehrwellenlängen-Holographie präsentiert und Vor- und Nachteile der Kombination mit verschiedenen Phasenschiebeverfahren diskutiert.

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/N-117838.html