English
Deutsch
Log In
Password Login
or
Log in with Fraunhofer Smartcard
Research Outputs
Projects
Researchers
Institutes
Statistics
Fraunhofer-Gesellschaft
Home
Fraunhofer-Gesellschaft
Konferenzschrift
Testmustergenerierung für kombinatorische CMOS-Schaltungen mit einem Ausgang
Details
Full
Export
Statistics
Options
1989
Conference Paper
Titel
Testmustergenerierung für kombinatorische CMOS-Schaltungen mit einem Ausgang
Author(s)
Hübner, U.
Vierhaus, H.T.
Hauptwerk
Entwurf integrierter Schaltungen
Konferenz
Workshop Entwurf Integrierter Schaltungen (EIS-Workshop) 1989
Language
German
google-scholar
View Details
GMD
Tags
CMOS
Cs
ASICs
test