Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

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Systematical study of InAIN/GaN devices by numerical simulation

Eine systematische Studie von InAlN/GaN Bauelementen durch numerische Simulation
 
: Vitanov, S.; Palankovski, V.; Pozzovivo, G.; Kuzmik, J.; Quay, R.

Meneghesso, G. ; University of Padua:
HETECH 2008, 17th European Workshop on Heterostructure Technology : Venice, Italy november 3-5, 2008
Padova: University of Padova, Department of information engineering, 2008
ISBN: 978-88-6129-296-3
European Workshop on Heterostructure Technology (HETECH) <17, 2008, Venice>
Englisch
Konferenzbeitrag
Fraunhofer IAF ()
electronics; Elektronik; device simulation; Bauelement Simulation; HEMT; GaN; InAlN; indium

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/N-105252.html