Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

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Advanced characterization techniques for optics, semiconductors, and nanotechnologies

3 - 5 August 2003, San Diego, California, USA
 
: Duparre, A.; Singh, B.
: Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers -SPIE-, Bellingham/Wash.

Bellingham/Wash.: SPIE, 2003
SPIE Proceedings Series, 5188
Conference on Advanced Characterization Techniques for Optics, Semiconductors, and Nanotechnologies <2003, San Diego/Calif.>
ISBN: 0-8194-5061-8
Englisch
Tagungsband
Fraunhofer IOF ()

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/H-6745.html