Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.

Micro-raman investigation of InAsBi epilayers grown by MOVPE

 
: Verma, P.; Herms, M.; Irmer, G.; Okamoto, H.; Oe, K.; Yamada, M.

Ogawa, T.:
Defects - recognition, imaging and physics in semiconductors 1999. Proceedings : September 15 - 18, 1999
Amsterdam: North-Holland, 2000 (Journal of crystal growth 210,1/3)
S.5-11
International Conference on Defects in Semiconductors <8, 1999, Narita>
Englisch
Konferenzbeitrag
Fraunhofer IZFP ()

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/B-71898.html