Fraunhofer-Gesellschaft

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Structural characterisation of (GaAs) surface wire structure by triple axis (X-ray) grazing incidence diffraction

 
: Darowski, N.; Paschke, K.; Pietsch, U.; Wang, K.; Baumbach, G.; Forchel, A.; Lübbert, D.; Baumbach, T.

:

Physica. B 248 (1998), S.104-108
ISSN: 0921-4526
Englisch
Zeitschriftenaufsatz
Fraunhofer IZFP ()

: http://publica.fraunhofer.de/dokumente/B-60019.html