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Charakterisierung von Struktur und Eigenschaften ferromagnetischer Schichten als Voraussetzung für die Optimierung und Weiterentwicklung von Systemen zur Datenaufzeichnung

 

Kempter, K.; Haußelt, J. ; Deutsche Gesellschaft für Materialkunde e.V. -DGM-, Oberursel:
Werkstoffwoche '98. Bd.1: Symposium 1: Werkstoffe für die Informationstechnik. Symposium 12: Mikrosystemtechnik
Weinheim: Wiley-VCH, 1999
ISBN: 3-527-29938-6
pp.147-153 : Ill., Lit.
Werkstoffwoche <2, 1998, München>
German
Conference Paper
Fraunhofer IZFP ()
dünne Schicht; Eigenspannungsmessung; Ferromagnetismus; Werkstoffcharakterisierung

Abstract
Die Leistungsfähigkeit der entwickelten Barkhausenrauschmikroskopie wurde an einer Reihe dünner bzw. ultradünner Schichten (Sendust, Sofmax, NiFe, NiFeX), wie sie in magnetinduktiven bzw. magnetoresistiven Sensoren zum Einsatz kommen, aufgezeigt. Das BEMI liefert hier wichtige Information bzgl. Änderungen in der magnetischen Härte, des Eigenspannungs- oder Mikrogefügezustandes. Im Bereich der Wirbelstrommikroskopie kann das BEMI zur hochaufgelösten Schichtdickenmessung eingesetzt werden. Zukünftige Anwendungsfelder der entwickelten Barkhausenrausch- und Wirbelstrommikroskopie sind neben der Werkstoffentwicklung, die Magnetspeicher- und Mikrosystemtechnik sowie die Magnetoelektronik. Das Thema der Magnetoelektronik ist von herausragender Aktualität und Relevanz in Sinne der Technologie-Früherkennung. Die Magnetoelektronik, welche die Magnetowiderstandseffekte nutzt, hat ein hohes Anwendungspotential bei der Entwicklung von Bausteinen in der Datenspeicherung. Der kürzlich entdeckte GMR-E ffekt (giant-magnetic resistors) führte 1996 zur entwicklung erster GMR-Sensoren. Gerade bei der Weiterentwicklung von GMR-Schichtsystemen kann das BEMI einen wichtigen Beitrag leisten.

: http://publica.fraunhofer.de/documents/PX-7613.html