Verfahren und Vorrichtung zur Detektion von Oberflaechendefekten auf Messobjekten

Die Erfindung beschreibt ein Verfahren zur Detektion von Oberflaechendefekten auf Messobjekten. Dabei wird eine Oberflaeche mit einer Laserstrahlquelle mit einer Divergenz von maximal 150 mrad mit einer gleichmaessigen Intensitaet ueber die Flaeche bestrahlt. Die gestreute und/oder reflektierte Strahlung wird mit einer Detektionseinheit gemessen und anschliessend mit den bekannten Werten der reflektierten und/oder gestreuten Strahlung fuer eine Oberflaeche mit bekannter Struktur verglichen. Dieses Verfahren erlaubt es, mit hoher Selektivitaet und Empfindlichkeit Defekte auf Oberflaechen festzustellen. Mit der Erfindung ist es moeglich, Stahlerzeugnisse mit Temperaturen bis zu 2000°C zu untersuchen. Die Erfindung beschreibt ebenso eine fuer die Durchfuehrung des Verfahrens optimierte Vorrichtung.

DE 10117048 C UPAB: 20020910 NOVELTY - Method for detecting two- or three-dimensional defects in metal sheet or strip (3) comprises: (a) irradiating its surface using a laser diode array (1); (b) measuring the scattered or reflected light using one or more cameras (7, 10); and (c) comparing the value with that for a desired surface structure. The array produces uniform illumination of the surface, with a divergence of less than 150 mrad. DETAILED DESCRIPTION - An INDEPENDENT CLAIM is included for apparatus for carrying out the method. USE - Detecting two- or three-dimensional d