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Qualitaetsueberwachung bei einer Fertigung mit breitem Produktspektrum

Method monitoring quality of parallel production processes takes successive means of individual production model quality indicators, to form multidimensional means, used to plot and compare state magnitudes.
 
: Oechsner, R.; Tschaftary, T.; Strzyzewski, P.; Pfitzner, L.; Schneider, C.; Hennig, P.

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DE 1999-19901410 A: 19990115
DE 1999-19902795 A: 19990125
WO 2000-DE144 A: 20000117
EP 2000-908934 AW: 20000117
DE 19902795 A1: 20000803
EP 1145088 B1: 20040519
G07C0003
G05B0019
German
Patent, Electronic Publication
Fraunhofer IISB ()

Abstract
Die Erfindung befasst sich mit einem Verfahren zur Ueberwachung der Qualitaet einer Vielzahl von technischen Produkttypen (P, P', P''), die in einem quasi-parallelen Fertigungsprozess hergestellt werden. Es geht der Erfindung darum, nicht jeden zu kontrollierenden Parameter in einer eigenen Darstellung zu ueberwachen, sondern eine Vielzahl von aus dem Prozess gewonnenen Prozessdaten moeglichst uebersichtlich darzustellen. Hierzu schlaegt die Erfindung fuer die quasi-parallele Fertigung von verschiedenen Produkttypen vor, aus einer Stichprobe eines ersten Produkttyps in einer Fertigungsstation (S1) aus Messwerten eines technischen Produktparameters einen Mittelwert zu berechnen und diesen Mittelwert in einen mehrdimensionalen Mittelwertvektor als ein Skalar einzuspeichern. Der mehrdimensionale Mittelwert wird erst nach Ablauf einer festgelegten Zeitspanne (T1) in einen Zustandswert (T2) fuer die Fertigung der mehreren Produkttypen in der Fertigungsstation umgerechnet. Waehrend der festgelegten Zeitspanne (T1) koennen nacheinander mehrere Mittelwerte aus dem Fertigungsprozess Einfluss auf die einzelnen Skalare des mehrdimensionalen Mittelwertes nehmen. Insbesondere wird die Zustandsgroesse anhand einer T2-Hotelling-Statistik errechnet.

 

WO 200042480 A UPAB: 20001102 NOVELTY - Following processing in the S1 workstation, a spot sample is taken of the product. It is one of a series, having a first model number. Instruments measure set technical parameters indicative of product quality, resulting in values (m1, m2, mN). An individual mean (mp) is calculated from these measured values. This is stored in a multidimensional mean value (m) for the first model number (j), converting individual means into a state value. The result is stored as a point (Ta, Tb, Tc) on the path of the state magnitude (T2(t)), and/or is displayed (20). The state value is calculated using a T2 Hotelling statistical function USE - In production quality monitoring. ADVANTAGE - The method surveys several product types, manufactured in quasi-parallel production. The result is an overview of the process, rather than monitoring each individual parameter.

: http://publica.fraunhofer.de/documents/PX-63605.html