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Title
Verfahren und Einrichtung zum Erkennen und Separieren von durch energiereiche Strahlen, insbesondere Roentgenstrahlen, generierten Fluoreszenz- und Beugungserscheinungen in kristallinen Prueflingen
Date Issued
2000
Author(s)
Kaempfe, B.
Hanschke, M.
Patent No
1998-19843454
Abstract
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und Einrichtung zum Erkennen und Separieren von durch energiereiche Strahlen, insbesondere Roentgenstrahlen, generierten Fluoreszenz- und Beugungserscheinungen in kristallinen Prueflingen. Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die aus der Ueberlagerung von Fluoreszenzspektrum und Beugungsspektrum resultierenden Fehlerquellen bei der Durchfuehrung der Analyse auszuschalten und zugleich aus einem einzigen Messvorgang chemische und kristallographische Parameter sicher und einfach zu gewinnen. Diese Aufgabe wird durch folgende Arbeitsschritte geloest: a) Veraenderung der spektralen Lage der Beugungslinien durch mindestens ein einmaliges definiertes Veraendern der Messposition des Prueflings gegenueber der ersten Messung und erneute Aufnahme des Emissionsspektrums, b) Vergleich der den einzelnen Messpositionen zugeordneten Emissionsspektren, c) Separieren der in allen Messpositionen unveraenderlichen Spektrumsanteile und Auswerten dieser Anteile durch eine an sich bekannte Roentgenfluoreszenzanalyse, d) Feststellen der den einzelnen Messpositionen nach Schritt a) zuordnungsbaren Beugungslinien, Bestimmen von Kennwerten fuer die Kristallinitaet des Prueflings und Nachweis der Existenz einkristalliner Bereiche m Pruefling, e) Feststellen einer systematischen Wiederholung der Beugungslinien nach Schritt d) und Bestimmen der Symmetrieelemente der Kristallstruktur und/oder der Kristallorientierung durch ein an sich bekanntes kristallographisches ...
DE 19936900 A UPAB: 20001018 NOVELTY - In a first stage the spectral position of the diffraction lines is altered by a single defined change in the position of the test item, followed by a repeat measurement of the emission spectrum and comparison of the emissions against the two positions. Those parts of the spectrum which remain unchanged are separated and analyzed by conventional X-ray fluorescent analysis. DETAILED DESCRIPTION - In a first stage the spectral position of the diffraction lines is altered by a single defined change in the position of the test item, followed by a repeat measurement of the emission spectrum and comparison of the emissions against the two positions. Those parts of the spectrum which remain unchanged are separated and analyzed by conventional X-ray fluorescent analysis. The positions measured are determined using the first-stage diffraction lines and determination of the characteristic crystalline values of the test items, and detection of mono-crystalline zones (m) within the test item. The final stage systematically repeats determination of the characteristic crystalline values, and determines the symmetrical elements within the crystal structure and/or the crystal orientation using a conventional crystallography process. USE - X-ray analysis process to determine of the presence and concentration of chemical elements, to detect and separate energy-rich beams, e.g. X-rays, fluorescent emissions and refracted beams in crystalline test items. ADVANTAGE - The process facilitates a clear distinction between fluorescent lines and diffraction reflections, eliminating erroneous interpretation of analytical results.
Language
de
Patenprio
DE 1998-19843454 A1: 19980922