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Title
Thermographievorrichtung und -verfahren
Date Issued
2002
Author(s)
Schoenitz, J.
Thamm, U.
Patent No
1998-19832833
Abstract
Thermographieverfahren und -vorrichtung zur Untersuchung einer Werkstueckoberflaeche auf Materialinhomogenitaeten und/oder Oberflaechenverunreinigungen mit einer Flaechenstrahlungsquelle zur Einstrahlung von Infrarotstrahlung auf die Werkstueckoberflaeche und einer Infrarotkamera zur Abbildung und Erfassung der von dem Werkstueck ausgehenden Infrarotstrahlung. Durch die Infrarotabbildung der untersuchten Oberflaeche auf ein hochaufloesendes Aufnahmefeld wird auf schnelle Weise ein genaues Abbild der Werkstueckoberflaeche in bezug auf den Emissionskoeffizienten und damit lokal vorhandene Werkstueckverunreinigungen oder Stoerungen geschaffen.
DE 19832833 A UPAB: 20000323 NOVELTY - An infrared source (12) irradiates a workpiece (10). A detector (14) detects infrared radiation emitted by the workpiece. A processing and control unit (16) controls the detector by evaluating data received from it. The source is a flat source that irradiates an extended surface of the workpiece. The detector is a two-dimensional position resolving infrared imaging and detection device. DETAILED DESCRIPTION - An INDEPENDENT CLAIM is also included for a thermographic process. USE - Especially for thermographic investigation of a workpiece. ADVANTAGE - Enables rapid thermographic investigation of an extended workpiece surface without emission factors alternating over the surface leading to errors in the measurement results.
Language
de
Patenprio
DE 1998-19832833 A: 19980721