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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. Untersuchungen an SiGe/Si-Heterostrkturen mit Röntgenmethoden
 
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1998
Diploma Thesis
Title

Untersuchungen an SiGe/Si-Heterostrkturen mit Röntgenmethoden

Thesis Note
Dresden, TU, Dipl.-Arb., 1998
Author(s)
Frohberg, K.
Language
German
English
IMS2  
Keyword(s)
  • Epitaxialschicht

  • Heterostruktur

  • Röntgenstrahlung

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