Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

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Untersuchung von Defekten in Verbindungshalbleitern mit abbildenden Photolumineszenzverfahren

 
: Forker, J.

Freiburg/Brsg., 1995
Freiburg/Brsg., Univ., Dipl.-Arb., 1995
German
Thesis
Fraunhofer IAF ()
Defekt; GaAs-Substrat; Photolumineszenz

: http://publica.fraunhofer.de/documents/PX-58445.html