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1998
Conference Paper
Titel
Barkhausen- und Wirbelstrommikroskopie zur Werkstoffcharakterisierung und Eigenspannungsmessungen im Mikrometerbereich
Abstract
In der Werkstoffentwicklung werden zunehmend höhere Anforderungen an die laterale Auflösung und an quantitative Prüfaussagen gestellt. Von besonderem Interesse sind hier Gefügecharakterisierung, Mikrofehlerdetektion sowie die Ermittlung der Verteilung mechanischer Eigenschaften wie Eigenspannung oder Härte. Diesem Bedarf wird durch die Entwicklung hochauflösender zerstörungsfreier Prüfverfahren entsprochen, die z.B. auf magnetischen und elektrischen Wechselwirkungen basieren, wie das Barkhausenrausch- und Wirbelstrommikroskop, genannt BEMI (Barkhausen Noise and Eddy Current Microscopy). Ein Hauptvorteil dieser Mikroskopietechnik liegt in der schnellen und ortsaufgelösten Eigenspannungsmessung. Die derzeit erzielten Meßzeiten liegen deutlich unter denjenigen der Röntgenographischen Eigenspannungsmessung.
Konferenz