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Ausfallmechanismen bei integrierten Halbleiterbauelementen
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1984
Journal Article
Title
Ausfallmechanismen bei integrierten Halbleiterbauelementen
Author(s)
Bartosz, R.
Faul, R.
Journal
Der Elektroniker
Language
German
IFT
Keyword(s)
Schaltung(integriert)
Zuverlässigkeit
