Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.

Ausfallmechanismen bei integrierten Halbleiterbauelementen

 
: Bartosz, R.; Faul, R.

Der Elektroniker (1984), No.10, pp.73 : Abb.,Tab.,Lit.
ISSN: 0531-9218
German
Journal Article
Fraunhofer IFT; 2000 dem IZM eingegliedert
Schaltung(integriert); Zuverlässigkeit

: http://publica.fraunhofer.de/documents/PX-5029.html