Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

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Implementierung und Bewertung verschiedener Modelle zur Beschreibung von Degradationsprozessen in höchstintegrierten Bauelementen zur Lebensdauerprognose integrierter Schaltungen

 
: Lange, U.

Dresden, 1997, 69 pp. : Ill., Lit.
Dresden, TU, Dipl.-Arb., 1997
German
Thesis
Fraunhofer IMS, Außenstelle Dresden ( IPMS) ()
Gate-Oxid; Schaltkreis; Schichtdickenmessung; Zuverlässigkeit

: http://publica.fraunhofer.de/documents/PX-49651.html