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Entwicklung eines wellenlängenstabilisierten Halbleiterlaser-Interferometers zur relativen Längen- sowie absoluten Abstandsmessung

 
: Thiel, J.
: Pfeifer, T.

Düsseldorf: VDI-Verlag, 1993, XIII, 144 pp. : Ill.
Zugl.: Aachen, TH, Diss., 1993
Fortschritt-Berichte VDI, Reihe 8: Meß-
ISBN: 3-18-146408-2
German
Dissertation
Fraunhofer IPT ()
Abstandsmessung; Halbleiterlaser; Interferometrie; Längenmessung; laser; Signalverarbeitung

Abstract
Im Gegensatz zur konventionellen Längeninterferometrie mit frequenzstabilisierten HeNe-Lasern bietet die Absolutinterferometrie die Möglichkeit, den Ab stand zwischen zwei Punkten statisch ohne Verschieben des Meßreflektors zu bestimmen. Ausgangspunkt dieser Arbeit ist ein Michelson-Interferometer mit Quadratursignalauswertung, wobei der Vorteil der kontinuierlichen, modensprungfreien Durchstimmbarkeit der Wellenlänge von Halbleiterlasern ausgenutzt wird. Aufbauend auf einer theoretischen Betrachtung der Mehrwellenlängeninterferometrie und einer Untersuchung der Eigenschaften von Halbleiterlasern wird ein wellenlängenstabilisiertes Halbleiter-Interferometer mit einem konventionellen Interferometer verglichen. Die Kalibrierung der Wellenlänge geschieht mit einer interferometrischen Anordnung (Wavemeter), bei der unterschiedliche Methoden zur Auflösungserweiterung eingesetzt werden. Die so gewonnenen Erkenntnisse fließen in die Entwicklung eines absolut messenden Halbleiterlaser-Interfer ometers ein, bei dem mehrere Meßverfahren einander gegenübergestellt werden.

: http://publica.fraunhofer.de/documents/PX-46573.html