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Artikel
Zuverlässigkeitsbewertung hochbeanspruchter elektronischer Baugruppen. Teil 2
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1993
Journal Article
Titel
Zuverlässigkeitsbewertung hochbeanspruchter elektronischer Baugruppen. Teil 2
Author(s)
Michel, B.
Großer, V.
Dudek, R.
Kühnert, R.
Schubert, A.
Zeitschrift
Verbindungstechnik in der Elektronik
Language
German
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Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration IZM