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Zuverlässigkeitsbewertung hochbeanspruchter elektronischer Baugruppen. Teil 1
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1993
Journal Article
Title
Zuverlässigkeitsbewertung hochbeanspruchter elektronischer Baugruppen. Teil 1
Author(s)
Michel, B.
Großer, V.
Dudek, R.
Kühnert, R.
Schubert, A.
Journal
Verbindungstechnik in der Elektronik
Language
German
Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration IZM