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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. Zuverlässigkeitsbewertung hochbeanspruchter elektronischer Baugruppen. Teil 1
 
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1993
Journal Article
Title

Zuverlässigkeitsbewertung hochbeanspruchter elektronischer Baugruppen. Teil 1

Author(s)
Michel, B.
Großer, V.
Dudek, R.
Kühnert, R.
Schubert, A.
Journal
Verbindungstechnik in der Elektronik  
Language
German
Fraunhofer-Institut für Zuverlässigkeit und Mikrointegration IZM  
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