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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. Zuverlässigkeit von Bipolartransistoren in BiCMOS-Technologien
 
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1999
Conference Paper
Title

Zuverlässigkeit von Bipolartransistoren in BiCMOS-Technologien

Abstract
Aufbauend auf einer im IMS erstellten Literaturstudie wurden die wesentlichen Degradationsphänomene bei Bipolartransistoren aufgezeigt. Nach Darstellung der Meßmethodik wurde demonstriert, wie man zu Zuverlässigkeitsaussagen kommt. Die Umsetzung in ein automatisiertes Meß- und Auswerteprogramm wurde durchgeführt und an einigen Transistoren des Projektpartners erprobt.
Author(s)
Dreizner, A.
Scharfe, R.
Stephan, R.
Wagner, H.
Mainwork
Workshop Smart Fabrication Qualitätsmanagement 1999  
Conference
Workshop Smart Fabrication Qualitätsmanagement 1999  
Language
German
IMS2  
Keyword(s)
  • BICMOS

  • BICMOS-Technologie

  • Bipolartransistor

  • Zuverlässigkeit

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