Options
1992
Conference Paper
Titel
Zuverlässigkeit in der Mikrosystemtechnik - Methoden, Verfahren, Grenzen
Abstract
Bei der Entwicklung elektornischer Bauteile wird es zunehmend wichtiger bereits während der Entwicklungsphase Zuverlässigkeitsaspekte zu berücksichtigen. Insbesondere gilt dies für mikrosystemtechnische Anwendungen mit hohem Innovationsgrad. Im Rahmen dieser Veröffentlichung wird ein Überblick über qualitative und quantitave Methoden zur Bestimmung von Kenngrößen der Zuverlässigkeit gegeben. Ebenso werden die Grenzen und Fehler dieser Verfahren diskutiert.
Konferenz
Language
German