Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.

Vorrichtung zur Dickenmessung

Device for measuring thickness
 
: Geisselmann, H.; Frank, M.

:
Frontpage ()

DE 1989-3927394 A: 19890819
DE 1989-3927394 A: 19890819
DE 3927394 C2: 19910606
G01B0015
German
Patent, Electronic Publication
Fraunhofer IITB ( IOSB) ()

Abstract
Vorrichtung zur Dickenmessung von Messobjekten aus unterschiedlichen dielektrischen Materialien, bestehend aus einem Hohlraumresonator, in dem ein Mikrowellensender angeordnet ist, dessen Energie ueber ein Fenster das Messobjekt durchstrahlt und das reflektierte Mikrowellensignal von einem Detektor gemessen wird, wobei das Messobjekt auf einer Metallplatte, die mit einem zweiten Fenster versehen ist gelagert ist, und gegenueber dem zweiten Fenster ein als Reflexionsebene fuer das zu reflektierende Mikrowellensignal ein Modulator vorgesehen ist.