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Vorrichtung zum Pruefen der Groesse und der Abstaende von Siliziumkristallen in Al-Si-Legierungen
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Title
Vorrichtung zum Pruefen der Groesse und der Abstaende von Siliziumkristallen in Al-Si-Legierungen
Date Issued
1980
Author(s)
Dutschke, W.
Jacklin, H.
Patent No
1977-2734234
Language
de
Institute
Fraunhofer-Institut für Produktionstechnik und Automatisierung IPA
Link
http://worldwide.espacenet.com/publicationDetails/biblio?DB=worldwide.espacenet.com&locale=en_EP&FT=D&CC=DE&NR=2734234A
Patenprio
DE 1977-2734234 A: 19770729