Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

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Vergleich des Spannungszustandes eines halbelliptischen Oberflaechenfehlers mit dem einer Kompaktprobe

 
: Siegele, D.; Schmitt, W.

Deutscher Verband für Materialforschung und -prüfung e.V. -DVM-, Berlin:
Tagungsband 15. Sitzung des Arbeitskreises Bruchvorgänge im DVM
Berlin/West, 1983
pp.307-320 : Abb.,Lit.
Deutscher Verband für Materialforschung und -prüfung, Arbeitskreis Bruchvorgänge (Sitzung) <15, 1983, Darmstadt>
German
Conference Paper
Fraunhofer IWM ()
Kompaktprobe; Oberflächenfehler(halbelliptisch); Spannungszustand; Vergleich

: http://publica.fraunhofer.de/documents/PX-39636.html