Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

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Verfahren zum indirekten Messen der Blickrichtung

Process for the indirect measurement of the sightline
 
: Korn, A.; Liepelt, H.

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DE 1976-2629073 A: 19760629
DE 1976-2629073 A: 19760629
DE 2629073 C3: 19810416
G01S0003
German
Patent, Electronic Publication
Fraunhofer IITB ( IOSB) ()