Fraunhofer-Gesellschaft

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Ultraschallprüfung auf senkrecht orientierte Risse durch Ausnutzung der Wellenumwandlung -Tandemersatzprüfung-

 
: Hoffmann, R.; Gebhardt, W.; Walte, F.

Deutsche Gesellschaft für Zerstörungsfreie Prüfung e.V. -DGZfP-, Berlin:
Vorträge und Plakatberichte Jahrestagung 1988 Zerstörungsfreie Materialprüfung. Berichtsbd.14
Berlin/West, 1988
pp.458-467
Deutsche Gesellschaft für Zerstörungsfreie Prüfung (Jahrestagung) <1988, Siegen>
German
Conference Paper
Fraunhofer IZFP ()
Fehlerklassierung; LLT-Prüfkopf; Modenumwandlung; Oberflächenprüfung; Plattierungseinfluß; Rißnachweis; Tandemersatzprüfung

Abstract
Fuer den Nachweis senkrecht zur Oberflaeche orientierter Risse kann mit Vorteil die Wellenumwandlung am Fehler ausgenutzt werden: Eine ueber die Rueckwand reflektierte Longitudinalwelle trifft unter flachen Winkel auf den Fehler und wird dort groesstenteils mode-konvertiert. Die so erzeugte Transversalwelle laeuft bei passend gewaehlter Geometrie in den Pruefkopf zurueck. Diese "Long-Long-Trans" (LLT)-Technik tritt damit in Konkurrenz zur gaengigen Tandempruefung. Bei vergleichbarer Pruefempfindlichkeit besitzt die LLT-Technik entscheidende Vorteile. Zum einen ist sie eine Einkopftechnik und somit wesentlich besser zu handhaben. Zum anderen werden Pruefbereiche zugaenglich, die aufgrund der grossen Laenge der Tandemanordnung nicht erreicht werden koennen (begrenzte Bauteilgroesse, Bauteilkruemmungen). Bei der LLT-Technik sind Einschallwinkel und Empfangswinkel unabhaengig von der absoluten Wandstaerke, so dass mit einem Pruefkopfeinsatz Prueflinge verschiedener Dicke untersucht werden koennen. Durch Laufzeitmessungen ist eine Fehlerlokalisation moeglich. Bei gleicher Prueffrequenz ist die Tandempruefung wesentlich anfaelliger gegen plattierungsbedingte Stoerungen als die LLT-Technik. Schliesslich arbeitet das LLT-Verfahren bezueglich Rissnachweis selektiver als die Tandempruefung, d.h. auf Einschluesse reagiert das Verfahren, wegen der hier reduzierten Effizienz der Wellenumwandlung, deutlich unempfindlicher. (IZFP)

: http://publica.fraunhofer.de/documents/PX-37382.html