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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. Speckle-Interferometrie mit Diodenlasern zur Formprüfung
 
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1998
Journal Article
Title

Speckle-Interferometrie mit Diodenlasern zur Formprüfung

Abstract
In der ESPI (Electronic Speckle Pattern Interferometry) erlaubt der Einsatz von kontinuierlich durchstimmbaren Halbleiterdiodenlasern die Messung der 3D-Topographie von technischen Freiformflächen. Die Auflösung dieser Zweiwellenlängen-ESPI (TWESPI) hängt entscheidend von dem durchstimmbaren Wellenlängenbereich des eingesetzten Lasers ab. Mit einem Distributed-Bragg-Reflector--Laser (DBR-Laser) konnten Formmessungen erfolgreich durchgeführt werden. In diesem Beitrag wird über weiterführende Methoden des Einsatzes eines DBR-Lasers zur Erweiterung des Meßbereiches, zur Phasenschiebung und zur Kalibrierung des Meßsystems berichtet. Darüber hinaus wird ein Aufbau zur kombinierten Messung von Form und Deformation vorgestellt und entsprechend Meßresultate präsentiert.
Author(s)
Pfeifer, Tilo
Wegner, Ronny
Mischo, Horst
Journal
Technisches Messen : TM  
DOI
10.1524/teme.1998.65.3.96
Language
German
Fraunhofer-Institut für Produktionstechnologie IPT  
Keyword(s)
  • durchstimmbarer Halbleiterdiodenlaser

  • ESPI

  • Formprüfung

  • kodierte Beleuchtung

  • Speckle-Interferometrie

  • Verformungsprüfung

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