Fraunhofer-Gesellschaft

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Speckle-Interferometrie mit Diodenlasern zur Formprüfung

 
: Pfeifer, T.; Wegner, R.; Mischo, H.

Technisches Messen : TM 65 (1998), No.3, pp.96-104
ISSN: 0340-837X
ISSN: 0178-2312
ISSN: 0171-8096
German
Journal Article
Fraunhofer IPT ()
durchstimmbarer Halbleiterdiodenlaser; ESPI; Formprüfung; kodierte Beleuchtung; Speckle-Interferometrie; Verformungsprüfung

Abstract
In der ESPI (Electronic Speckle Pattern Interferometry) erlaubt der Einsatz von kontinuierlich durchstimmbaren Halbleiterdiodenlasern die Messung der 3D-Topographie von technischen Freiformflächen. Die Auflösung dieser Zweiwellenlängen-ESPI (TWESPI) hängt entscheidend von dem durchstimmbaren Wellenlängenbereich des eingesetzten Lasers ab. Mit einem Distributed-Bragg-Reflector--Laser (DBR-Laser) konnten Formmessungen erfolgreich durchgeführt werden. In diesem Beitrag wird über weiterführende Methoden des Einsatzes eines DBR-Lasers zur Erweiterung des Meßbereiches, zur Phasenschiebung und zur Kalibrierung des Meßsystems berichtet. Darüber hinaus wird ein Aufbau zur kombinierten Messung von Form und Deformation vorgestellt und entsprechend Meßresultate präsentiert.

: http://publica.fraunhofer.de/documents/PX-34400.html