Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

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Raman study of Si plus -implanted GaAs.

Ramanspektroskopische Untersuchung an Si plus implantiertem GaAs
 
: Fritzsche, C.; Wagner, J.

:

Journal of applied physics 64 (1988), No.2, pp.808-814 : Abb.,Tab.,Lit.
ISSN: 0021-8979
ISSN: 1089-7550
English
Journal Article
Fraunhofer IAF ()
GaAs; Ionenimplantation; Ramanstreuung

: http://publica.fraunhofer.de/documents/PX-30807.html