Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

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Raman scattering as a quantitative tool for residual acceptor assessment in semi-insulating GaAs

 
: Kaufmann, U.; Seelewind, H.; Wagner, J.

:

Applied Physics Letters 48 (1986), No.16, pp.1054-1056 : Abb.,Tab.,Lit.
ISSN: 0003-6951 (Print)
ISSN: 1077-3118
English
Journal Article
Fraunhofer IAF ()
Akzeptor; GaAs(semiisolierend); Ramanstreuung

: http://publica.fraunhofer.de/documents/PX-30771.html