Fraunhofer-Gesellschaft

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Phase analysis of interfacial carbon in GaAs grown by molecular beam epitaxy

Phasenanalyse von Kohlenstoff an der Grenzfläche Molekularstrahl-epitaktisch gewachsener Schichten auf GaAs-Substrat
 
: Maier, M.; Köhler, K.

Benninghoven, A.; Nihei, Y.; Shimizu, R.; Werner, H.W.:
Secondary Ion Mass Spectrometry. SIMS IX. Proceedings of the Ninth International Conference
Chichester: Wiley and Sons, 1993
ISBN: 0-471-94218-9
pp.674-677 : Abb.,Lit.
International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry <9, 1993, Yokohama>
English
Conference Paper
Fraunhofer IAF ()
carbon phase analysis; Kohlenstoffphasenanalyse; MBE; SIMS

: http://publica.fraunhofer.de/documents/PX-28323.html