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On-Wafer Charakterisierung der Rauscheigenschaften von Mikrowellentransistoren
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1997
Book Article
Titel
On-Wafer Charakterisierung der Rauscheigenschaften von Mikrowellentransistoren
Author(s)
Vorwerk, M.
Eggert, D.
Hauptwerk
Fraunhofer-Institut für Mikroelektronische Schaltungen und Systeme. Annual report 1997
Language
German
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IMS2