Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

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A multigrid method for simulation of the diffusion equation in VLSI process modeling

 
: Seidl, A.

IEEE transactions on electron devices ED30 (1983), No.9, pp.999 ff : Abb.,Tab.,Lit.
ISSN: 0018-9383
English
Journal Article
Fraunhofer IFT; 2000 dem IZM eingegliedert
diffusion; Hochintegration; modeling; simulation

: http://publica.fraunhofer.de/documents/PX-25263.html