Fraunhofer-Gesellschaft

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Monte Carlo particle calculation and direct observation of the electron and hole contribution to the response of a GaAs-metal semiconductor-metal-Schottky diode to a short light pulse

Monte-Carlo-Teilchen-Simulation und direkte Beobachtung der Elektronen- und Löcherbeiträge zur Antwort einer GaAs-Metall Halbleiter-Metall-Schottky Diode auf einen kurzen Laserpuls
 

Anastassakis, E.M.; Joannopoulos, J.D.:
20th International Conference on the Physics of Semiconductors 1990
Singapore: World Scientific, 1990
ISBN: 981-02-0539-2
pp.407-410 : Abb.
International Conference on the Physics of Semiconductors <20, 1990, Thessaloniki>
English
Conference Paper
Fraunhofer IAF ()
GaAs; Korrelationsmeßtechnik; metal-semiconductor-metal photodetector; Metall-Halbleiter-Metall-Photodetektor; Monte Carlo methods; picosecond; Pikosekunde; sampling

: http://publica.fraunhofer.de/documents/PX-25112.html