Fraunhofer-Gesellschaft

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Mögliche Fehler vorausberechnen - Ausfallabsicherung und Funktionskontrolle für IC's

 
: Faul, R.

Elektronik 37 (1988), No.6, pp.104-107
ISSN: 0013-5658
German
Journal Article
Fraunhofer IFT; 2000 dem IZM eingegliedert
Anfallwahrscheinlichkeit; Ausfallabsicherung; Betriebsbedingung; Defekt; Funktionskontrolle; Hammingdistanz; Lebensdauer; Redundanz; Signaturanlage; Streßparameter

Abstract
Der Beitrag gibt einen kleinen Ueberblick ueber Moeglichkeiten und Perspektiven fuer die Ausfallabsicherung speziell bei VLSI-IC's. Neben einigen Angaben zu bekannten und in Anwendung befindlichen Massnahmen wird eine "Technologie - State - Control" (TSC) vorgestellt. Diese TSC basiert auf dem Gedanken einer technologisch orientierten Ueberwachung des im Einsatz befindlichen Bauelements, wobei vornehmlich die Erfassung und Auswertung von Temperatur und Feuchte betrachtet wird. Einige Ausblicke, die sich durch eine TSC ergaeben, werden gegen Ende des Beitrags skizziert bzw. zur Diskussion gestellt. (IFT)

: http://publica.fraunhofer.de/documents/PX-24857.html