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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. Meßtechnikapplikationen im Fraunhofer-Institut für Mikroelektronische Schaltungen und Systeme, IMS2, Dresden
 
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1995
Journal Article
Title

Meßtechnikapplikationen im Fraunhofer-Institut für Mikroelektronische Schaltungen und Systeme, IMS2, Dresden

Abstract
Die Erweiterung digitaler Schaltungen um analoge Elemente zu Mixed-Signal-Schaltungen sowie die Einbeziehung von Speicher-, Fuzzy- und Scan-Path-Elementen stellen neue Anforderungen an den Schaltungstest. Die ausgewählten Beispiele "Mixed-Signal-Test mit HP82000, "Generierung algorithmischer Testvektoren" und "Test von Designs mit Scan-Fähigkeit" sollen zeigen, wie durch Eigenentwicklungen die Testmöglichkeiten mit dem im IMS vorhandenen digitalen Testsystem HP82000 erweitert wurden. Damit ist das Testsystem für den automatischen Test von Digitalschaltungen, Mixed-Signal-Schaltungen und integrierten Mikrosystemen geeignet. Mit der vorgestellten on-wafer Mikrowellenmeßtechnik verfügt das IMS über einen weiteren Meßtechnikkomplex, der auch für die Lösung anwenderspezifischer Aufgabenstellungen auf diesem Gebiet eingesetzt wird.
Author(s)
Werner, W.-D.
Journal
Meßtechnik News  
Language
German
IMS2  
Keyword(s)
  • Meßgerät

  • Meßtechnik

  • Mikroelektronik

  • Mikrowellentechnik

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