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Kennlinienbasiertes Sensorsystem zur Kalibration und Reduzierung von Querempfindlichkeiten unter Anwendung von Oversampling-Methoden

 

Tielert, R. ; VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik, Mikro- und Feinwerktechnik -GMM-:
Mikroelektronik '97. Vorträge der GMM-Fachtagung
Berlin: VDE-Verlag, 1997 (GMM-Fachbericht 17)
ISBN: 3-8007-2247-X
pp.33-38
VDE/VDI-Gesellschaft Mikroelektronik, Mikro- und Feinwerktechnik (Fachtagung) <1997, München>
German
Conference Paper
Fraunhofer IMS ()
Meßaufnehmer; nichtlineares System; Signalverarbeitung; Temperaturkompensation

Abstract
Der Gesamtpreis präziser Sensorsysteme wird heutzutage neben den sinkenden Herstellungskosten massiv von den Kosten für das Testen und der zumeist zeitintensiven Kalibration mitbestimmt. Die Test- und Kalibrationskosten können bis zu 30 Prozent vom Preis des Gesamtsystems betragen, so daß aus wirtschaftlicher Sicht die Entwicklung effizienter Kalibrationshardware und den dazugehörigen Kalibrations- und Teststrategien zunehmend an Bedeutung gewinnt. In diesem Beitrag wird ein CMOS-Signalverarbeitungs-IC für Sensorsysteme vorgestellt, das den zuvor gestellten Anforderungen Rechnung trägt.

: http://publica.fraunhofer.de/documents/PX-20376.html