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Fraunhofer-Gesellschaft
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  4. Fehlerklassierung und Rißtiefenbewertung von Oberflächenrissen mit LLT-Prüfköpfen
 
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1989
Conference Paper
Title

Fehlerklassierung und Rißtiefenbewertung von Oberflächenrissen mit LLT-Prüfköpfen

Abstract
Im IzfP wurde eine hochempfindliche SE-Technik entwickelt, um senkrecht zur Oberfläche orientierte Innenrisse in dickwandigen Bauteilen sicher nachzuweisen und die unhandliche Tandemprüfung zu ersetzen (1-3). Die hoche Empfindlichkeit dieser "LLT"- (Longitudinal-, Longitudinal-Transversalwellen) Technik resultiert aus der effizienten Umwandlung einer Longitudinalwelle am Riß in eine Transversalwelle und der gleichzeitigen Ausnutzung der spiegelnden Reflexionen. Erste labormäßige Versuche zeigen, daß diese Technik sowohl zu einem Fehlerklassierungsverfahren als auch zu einem Oberflächenprüfverfahren erweitert werden kann.
Author(s)
Hoffmann, B.
Gebhardt, W.
Walte, F.
Mainwork
Moderne ZfP - Analysen und Prognosen  
Conference
Deutsche Gesellschaft für Zerstörungsfreie Prüfung (Jahrestagung) 1989  
Language
German
Fraunhofer-Institut für Zerstörungsfreie Prüfverfahren IZFP  
Keyword(s)
  • Fehlerklassierung

  • LLT-Technik

  • Rißtiefenvermessung

  • Ultraschallprüfung

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