Fraunhofer-Gesellschaft

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Ermittlung lokaler Eigenspannungszustände in Rißspitzenumgebung mit Hilfe der Barkhausen-Mikroskopie und röntgenographischer Methoden

 
: Blumenauer, H.; Horn, D.; Altpeter, I.; Krempe, M.

Deutsche Gesellschaft für Zerstörungsfreie Prüfung e.V. -DGZfP-, Berlin; Deutscher Verband für Materialforschung und -prüfung e.V. -DVM-, Berlin:
Seminar Zerstörungsfreie Materialcharakterisierung 1996. Vorträge und Plakatbeiträge
1996 (DGZfP-Berichtsbände 54)
ISBN: 3-931381-09-9
pp.85-92
Seminar Zerstörungsfreie Materialcharakterisierung <1996, Jena>
German
Conference Paper
Fraunhofer IZFP ()
Barkhausen microscopy; Barkhausen-Mikroskopie; Eigenspannung; Rißwachstum; Stahl; steel

Abstract
Beim Belasten einer angerissenen Probe oder eines Bauteils entsteht vor der Rißspitze eine plastische Zone. Nach Entlasten verbleiben in dieser Zone Eigenspannungen erster und höherer Art, die den Rißfortschritt bei erneuter Belastung beeinflussen. Von erheblicher praktischer Bedeutung sind der "Überlast"-Effekt, der bei zyklischer Randombeanspruchung die Wachstumsgeschwindigkeit eines Ermüdungsrisses verringert und der "Warmvorbeanspruchungs"-Effekt, der durch eine Erhöhung der Bruchzähigkeit im Spaltbruchbereich nach vorangegangener Vorbeanspruchung in der Hochlage der Zähigkeit gekennzeichnet ist. Das Erfassen des lokalen Eigenspannungszustandes in der plastischen Zone mit hochauflösenden Methoden ist deshalb eine wichtige Voraussetzung für das Verständnis der Bruchvorgänge und die Verbesserung der Schadenstoleranz von Konstruktionswerkstoffen. Während über die Anwendung der röntgenographischen Meßtechnik bereits mehrfach berichtet wurde, liegen bisher erst wenig Erfahrungen über di e Nutzung des mikromagnetischen Effekts zur Ermittlung lokaler Eigenspannungszustände in Rißspitzenumgebung vor. Es ist das Ziel dieser Arbeit, durch eine vergleichende Analyse beider Verfahren die methodischen Grundlagen für die Bestimmung von Eigenspannungen in der Rißspitzenumgebung duktiler Stähle zu verifizieren.

: http://publica.fraunhofer.de/documents/PX-13001.html