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1998
Book Article
Title
Endoskopisches 3D-Formmeßsystem
Abstract
Es wird ein Meßsystem beschrieben, mit dessen Hilfe man in der Lage ist, von technischen Oberflächen die 3D-Koordinaten ihrer Form zu bestimmen. der Vorteil des Systems liegt in der Möglichkeit, Objekte an versteckt liegenden oder schwer erreichbaren Stellen messen zu können. Das System arbeitet auf der Grundlage der Zweiwellenlängen-Speckle-Interferometrie. In diesem Sinne läßt es sich als kohärentes optisches Meßverfahren klassifizieren. Neben der kurzen Darstellung des Meßverfahrens und dem Aufbau des Meßsystems werden einige Meßbeispiele vorgestellt.