Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.

The effect of random dopant fluctuations on the minimum channel length of short-channel MOS transistors

 
: Mikolajick, T.; Häublein, V.; Ryssel, H.

:

Applied physics. A 64 (1997), pp.555
ISSN: 0340-3793
ISSN: 0721-7250
ISSN: 0947-8396
English
Journal Article
Fraunhofer IIS B ( IISB) ()

: http://publica.fraunhofer.de/documents/PX-10619.html