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Title
Verfahren und Vorrichtung zur Durchfuehrung der Plasmaemissionsspektrometrie
Date Issued
2004
Author(s)
Noll, Reinhard
Stepputat, M.
Patent No
2002-10229498
Abstract
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Durchfuehrung der Emissionsspektroskopie, insbesondere der Laser-Emissionsspektroskopie, bei dem ein gepulster Laserstrahl zur Generierung eines laserinduzierten Plasmas automatisch auf ein Werkstueck fokussiert wird, und bei dem die vom Plasma emittierte Strahlung detektiert und mit dem erfassten Strahlungsspektrum eine Elementanalyse durchgefuehrt wird. Die vorgeschlagenen Verbesserungen bestehen zum einen darin, eine Laserstrahlbeaufschlagung mit variablem Pulsabstand <T vorzunehmen, und zum anderen darin, vor der Plasma-Generierung neben dem Abstand d der Autofukussieroptik zur Werkstueckoberflaeche zusaetzliche Geometrie-Parameter P1, P2...PN eines potentiellen Messortes auf der Werkstueckoberflaeche zu bestimmen, und nur fuer diejenigen potentiellen Messorte eine Elementanalyse durchzufuehren, bei denen sich mindestens einer der zusaetzlichen Geometrie-Parameter innerhalb eines vorgegebenen Toleranzbereichs <T1...T2< befindet.
WO2004003528 A UPAB: 20040213 NOVELTY - Before plasma generation, in addition to the spacing d between the auto-focusing optics (1) and the workpiece surface (4), additional geometric parameters P1, P2, ... PN are determined at the workpiece surface, for each potential measurement location. Elemental analysis is carried out only at potential measurement locations, where at least one of the parameters lies within a given tolerance range T1 ... T2. DETAILED DESCRIPTION - An INDEPENDENT CLAIM is included for corresponding apparatus USE - For pulsed laser-excited, plasma emission spectroscopy of a solid workpiece. The composition of an alloy may be determined, for example. The workpiece is moving. It is e.g. falling comminuted electrical scrap. Following measurement, plant is controlled. The objective is sorting of the measured objects for testing. It may be used for quality documentation. ADVANTAGE - Improved measurement accuracy is offered, especially when the objects examined are moving. The geometric nature of the surface under measurement is ideally very close to that of the surface used for calibration. Such factors as correct location (focusing), object orientation, and even whether or not the object is present, are taken into account.
Language
de
Institute
Patenprio
DE 2002-10229498 A: 20020701