Fraunhofer-Gesellschaft

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CMOS-Bildsensorik. Eine Standardtechnik eröffnet neue Wege zur Bildgewinnung

 
: Schrey, O.; Brockherde, W.; Dinkelbach, R.

Photonik 34 (2002), No.2, pp.66-69 : Lit.
ISSN: 1432-9778
German
Journal Article
Fraunhofer IMS ()
CMOS pixel; high dynamic range; ladungsgekoppeltes Bauelement; Bildsensor; CMOS

Abstract
Aufgrund der rapiden Enttwicklung der CMOS-Technologie haben sich ihre möglichen Anwendungsgebiete erheblich erweitert, was zu einem Wiederaufleben des Interesses and dieser Technologie für die Fertigung von Bildsensoren geführt hat. Seit den 70er Jahren beherrschen CCD (Charge-Coupled-Device)-Bildsensoren den Weltmarkt bei der digitalen Bildaufnahme. Inzwischen sind jedoch Pixel (engl. von "Picture element") mit einem "pitch" (=Mittelabstand) bis hinunter zu 3,7 µm auch in CMOS-Technnologie entwickelt und gefertigt worden. Diese Minimalmaße konnten bisher nur bei den CCDs erreicht werden. Kommerziell erhältliche Kameraobjektive erreichen ihre Auflösungsgrenze bei 1 bis 2 µm (Beugungsgrenze), so dass eine Reduktion des Pixelpitch bis hinunter zu 1 µm sinnvoll ist. Auch die Bildqualität heutiger CMOS-Sensoren kann sich mit der von CCDs messen. Wir geben einen Überblick über den Stand der Technik und typische Anwendungen.

: http://publica.fraunhofer.de/documents/N-9782.html