Fraunhofer-Gesellschaft

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Charakterisierung und Tolerierung atomar strukturierter Oberflächen

 
: Kraus, M.

Heimsheim: Jost-Jetter Verlag, 2002, XIV, 119 pp.
Zugl.: Stuttgart, Univ., Diss., 2002
IPA-IAO Forschung und Praxis, 353
ISBN: 3-931388-82-4
German
Dissertation
Fraunhofer IPA ()
Oberfläche; Toleranzanalyse; Atom; Beschreibung

Abstract
Für eine Charakterisierung und Tolerierung dieser atomaren Oberflächen und Strukturen sind die heute in der Oberflächenmesstechnik verwendeten, genormten Kennwerte wie z. B. Rautiefe, Mittenrauwerte und Materialanteil nicht geeignet.
In der vorliegenden Arbeit werden deshalb zwei neue Kennwerte eingeführt, die die Anzahl atomarer Punktfehler und deren Verteilung und Clusterbildung auf atomaren Oberflächen beschrieben.
Dazu wird zunächst die Methode einer diskreten Messdatenanalyse eingeführt, die mit Verfahren der Bildverarbeitung und mathematischen Methoden aus einer Rastertunnelmikroskopaufnahme einer atomaren Oberfläche mit Defekten gezielt die Atommitten extrahiert, die ideale Oberflächentruktur rekonstruiert und anhand der diskreten Punktdatenmengen die Punktfehler auf der Oberfläche lokalisiert.
Für die Tolerierung von Defekten und atomaren Strukturen auf Oberflächen wird das Modell einer iterativen, wissensbasierten Toleranzfestlegung eingeführt, das anhand von definierten Regeln und Entscheidungsabläufen zu optimalen Toleranzgrenzen führen soll.

: http://publica.fraunhofer.de/documents/N-9759.html