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Konferenzschrift
Schadensanalyse mittels mikroskopischer Methoden
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2001
Conference Paper
Titel
Schadensanalyse mittels mikroskopischer Methoden
Author(s)
Kech, A.
Göschel, U.
Müller, U.
Osterloh, S.
Eyerer, P.
Fraunhofer-Institut für Chemische Technologie ICT
Hauptwerk
8. Problemseminar "Deformation und Bruchverhalten von Kunststoffen" 2001. Tagungsskript. CD-ROM
Konferenz
Problemseminar Deformation und Bruchverhalten von Kunststoffen 2001
Anwendersymposium Laserextensometrie 2001
Language
German
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Fraunhofer-Institut für Chemische Technologie ICT