Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.

Electrical reliability aspects of through the gate implanted MOS-structures with thin oxides

 
: Jank, M.; Lemberger, M.; Bauer, A.J.; Frey, L.; Ryssel, H.

:

Microelectronics reliability 41 (2001), No.7, pp.987-990
ISSN: 0026-2714
English
Journal Article
Fraunhofer IISB ()

: http://publica.fraunhofer.de/documents/N-8966.html