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1998
Conference Paper
Title
Eine Simulationsanlage für Störfestigkeitsmessungen an Geräten und kleineren Systemen mit gepulsten Hochleistungs-Mikrowellen
Abstract
Zur Untersuchung von Stör- und Ausfall-Schwellwerten elektronischer Schaltungen und Geräte gegenüber gepulsten Hochleistungs-Mikrowellen (HPM) wurde eine Simulationsanlage aufgebaut, die mit einem TEM-Wellenleiter und Hornantennen Bedrohungsfelder bis zu mehreren 1000 V/m erzeugen kann.
Author(s)
Language
German