Fraunhofer-Gesellschaft

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Eine Simulationsanlage für Störfestigkeitsmessungen an Geräten und kleineren Systemen mit gepulsten Hochleistungs-Mikrowellen

 
: Braun, C.; Guidi, P.; Schmidt, H.

Schwab, A. ; MESAGO Messe Frankfurt GmbH, Stuttgart:
Elektromagnetische Verträglichkeit EMV '98
Berlin: VDE-Verlag, 1998
ISBN: 3-8007-2324-7
pp.527-534
Internationale Fachmesse und Kongreß für Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) <6, 1998, Düsseldorf>
German
Conference Paper
Fraunhofer INT ()
EMV; EMC; elektromagnetische Verträglichkeit; HPM; Hochleistungs-Mikrowellen; High Power Microwaves; Feldsimulation; TEM-Wellenleiter; Pulsmodulation; Ausfall-Schwellen; susceptibility; electromagnetic compatibility; TEM wave-guide

Abstract
Zur Untersuchung von Stör- und Ausfall-Schwellwerten elektronischer Schaltungen und Geräte gegenüber gepulsten Hochleistungs-Mikrowellen (HPM) wurde eine Simulationsanlage aufgebaut, die mit einem TEM-Wellenleiter und Hornantennen Bedrohungsfelder bis zu mehreren 1000 V/m erzeugen kann.

: http://publica.fraunhofer.de/documents/N-796.html