Fraunhofer-Gesellschaft

Publica

Hier finden Sie wissenschaftliche Publikationen aus den Fraunhofer-Instituten.

Quantitative carrier lifetime images optically measured on rough silicon wafers

 
: Schubert, M.; Pingel, S.; The, M.; Warta, W.

:

Journal of applied physics 101 (2007), Art. 124907
ISSN: 0021-8979
ISSN: 1089-7550
English
Journal Article
Fraunhofer ISE ()
Siliciummaterialcharakterisierung

: http://publica.fraunhofer.de/documents/N-74687.html