Fraunhofer-Gesellschaft

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Elektromagnetische Empfindlichkeitsuntersuchungen an analogen und digitalen Schaltungen im Hochfrequenzbereich

 
: Schmidt, H.U.

T-Nova Deutsche Telekom Innovationsgesellschaft mbH; Informationstechnische Gesellschaft -ITG-, Fachausschuß 5.1 Informations- und Systemtheorie; Informationstechnische Gesellschaft -ITG-, Fachausschuß 8.4 Integrierte Systeme:
Kleinheubacher Berichte 2001
Darmstadt, 2001 (Kleinheubacher Berichte 44)
pp.102-110
International Union of Radio Science, Landesausschuß in der Bundesrepublik Deutschland (Gemeinsame Tagung) <2000, Kleinheubach>
German
Conference Paper
Fraunhofer INT ()
EMV; HPM; Suszeptibilität; Ausfall-Schwellwerte; Hochfrequenz-Störung; susceptibility; elektromagnetische Verträglichkeit; high power microwave; electromagnetic compatibility

Abstract
Eine der Hauptaufgaben der Elektromagnetischen Verträglichkeit (EMV) besteht darin, elektronische Schaltungen, Geräte und Systeme so zu gestalten, dass deren Funktion durch elektromagnetische Felder unterhalb definierter Grenzwerte nicht beeinträchtigt wird. Zur Gewährleistung dieser Forderung müssen die Effekte unterschiedlicher Felder (Hf-unmoduliert, -moduliert, -impulsmoduliert , bzw. impulsförmige Felder) in den verschiedenen Schaltungstypen (Analog-, Digital- Schaltungen) qualitativ und möglichst auch quantitativ bekannt sein. In einer Übersichts-Darstellung werden die Störmechanismen in diesen Schaltungen bei Beeinflussung durch unterschiedliche Signalformen sowie Kriterien für Ausfall- und Zerstör-Schwellwerte beschrieben. Dabei hat insbesondere der technische Fortschritt der Halbleiter-Technologien, der sich durch immer höhere Grenzfrequenzen und kleinere Betriebsspannungen äussert, einen starken Einfluss auf die Empfindlichkeit von Schaltungen unterschiedlicher Generationen. Ergänzt wird diese Darstellung durch Beispiele von Messungen des INT und anderer Institute an Schaltungen insbesondere mit impulsmodulierten und unmodulierten Hf-Feldern hoher Feldstärke.

: http://publica.fraunhofer.de/documents/N-72443.html