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Time-of-flight 3-D imaging in standard CMOS
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2008
Book Article
Titel
Time-of-flight 3-D imaging in standard CMOS
Author(s)
Ulfig, W.
Brockherde, W.
Hauptwerk
Fraunhofer-Institut für Mikroelektronische Schaltungen und Systeme. Annual Report 2007
Language
English
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Fraunhofer-Institut für Mikroelektronische Schaltungen und Systeme IMS