Fraunhofer-Gesellschaft

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Geprüfte Schneidplatte. Machine Vision System zur Prüfung in der Wendeschneidplattenproduktion

 
: Schmitt, R.; Hermes, R.; Bittencourt, J.L.

Quality Engineering (2007), No.11, pp.44-45
ISSN: 1436-2457
ISSN: 0724-1070
ISSN: 0363-9045
German
Journal Article
Fraunhofer IPT ()
Beschichtung=Überzug; Bildverarbeitung; Bildverarbeitungsanlage; CCD-Kamera; Farbprüfung; Formprüfung; Grauwertdarstellung; Inspektion; maschinelles Sehen; Musteranpassung; Qualitätsüberwachung; Wendeschneidplatte

Abstract
Zur Qualitätsprüfung von Wendeschneidplatten bietet sich die industrielle Bildverarbeitung an, um die manuellen Prüfprozesse zu automatisieren und zu objektivieren. Am WZL der RWTH Aachen wurde ein Machine-Vision-System entwickelt, das automatisiert die vier kritischen Qualitätsmerkmale Beschichtungsfarbe, Plattenform, Spanleitgeometrie und Eckenradius von Wendeschneidplatten überprüft. Die Prüfung der vier Qualitätsmerkmale erfolgt in drei Stufen. Im ersten Bildverarbeitungsschritt wird die Beschichtungsfarbe klassifiziert. Dazu wird eine 1-Chip-CCD-Farbkamera eingesetzt. Um die Plattenform und die Spanleitgeometrie zu überprüfen wird anschließend ein geometriebasiertes Pattern Matching eingesetzt, das anhand desselben Eingangsbildes die geometrischen Merkmale des zu klassifizierenden Objektes als Template abspeichert. Die geometrischen Details werden in einer einmaligen Trainingsphase pro Wendschneidplattentyp durch entsprechende Bildoperationen hervorgehoben und in vektorieller Form als Template abgelegt. im abschließenden Schritt wird der Eckenradius gemessen. Hierzu wird dem System der Sollradius mitgeteilt und anhand dessen parametriert sich die Algorithmik zur Konturerkennung mittels Suchstrahlverfahren, extrahiert die Position des Eckenradius anhand des Grauwertverlaufs und misst den Eckenradius subpixelgenau. Das System kann als autonome Prüfzelle in die Wendeschneidplattenproduktion integriert werden oder zur Erweiterung handelsüblicher Verpackungs- oder Schleifmaschinen genutzt werden.
Entnommen aus TEMA

: http://publica.fraunhofer.de/documents/N-69190.html

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